1.LED測(cè)試高低溫交變濕熱老化測(cè)試試驗(yàn)潮態(tài)箱詳細(xì)參數(shù)：

一，型號(hào)：HK-80T

二，廠家：東莞勤卓環(huán)測(cè)設(shè)備有限公司

三、測(cè)試范圍:-40℃（0℃，-20℃，-40℃，-60℃，-70℃） ～150℃

四、升降溫速率:平均每分鐘1℃～3℃。

五、機(jī)器精度:

1、解析精度:0.01℃。

2、控制精度:&plsmn;0.3℃。

3、波動(dòng)度:&plsmn;0.5℃。

4、均勻度:2℃。

LED測(cè)試高低溫交變濕熱老化測(cè)試試驗(yàn)潮態(tài)箱詳細(xì)機(jī)械板金結(jié)構(gòu):

1、內(nèi)箱材質(zhì):SS#304耐高低溫不銹鋼板。

2、外箱材質(zhì):SECC耐高低溫鋼板+粉體烤漆。

3、保溫材質(zhì):高強(qiáng)度P發(fā)泡與高密度之玻離纖維棉。

4、防汗機(jī)件:以系統(tǒng)Ｋ型管之熱能作防汗處理。

5、風(fēng)路機(jī)件:

a.采用進(jìn)口風(fēng)扇馬達(dá)+耐高低溫之鋁合金循環(huán)風(fēng)扇,以達(dá)強(qiáng)制對(duì)流垂直擴(kuò)散循環(huán)。

b.風(fēng)口可調(diào)式側(cè)吹出風(fēng)口及回加裝護(hù)網(wǎng)回風(fēng)口。

6、測(cè)試門與機(jī)體采雙層耐高低溫之高張性Silicon Packing,以確保測(cè)試區(qū)之密閉。

7、機(jī)器底部采用高質(zhì)量可固定式P活動(dòng)輪。

8、測(cè)試窗口采用多層真空玻璃,雙層電熱膜加熱除霧器.照明設(shè)備使用新式PL型日光燈。

9、測(cè)試區(qū)內(nèi)使用不銹鋼可調(diào)式活動(dòng)盤架二只。

10、一個(gè)測(cè)試孔（機(jī)器左側(cè),40mm）可外接測(cè)試電源線或信號(hào)線使用。（孔徑或孔數(shù)須增加屬OPTION配備）

七、加熱系統(tǒng):

1、采用型鰭片式高速加溫電熱器。

2、*獨(dú)立系統(tǒng),不影響冷凍及控制線路。

3、溫度控制輸出功率均經(jīng)由微電腦演算,以達(dá)高精度與高效率之用電效益。

八、冷凍系統(tǒng):

1、歐洲*法國(guó)泰康低溫級(jí)高效率省型壓縮機(jī)。

2、全系統(tǒng)使用 R404a,R23環(huán)保冷媒。

3、全系統(tǒng)管路均作通氮加壓 24H 檢漏測(cè)試。

4、加溫、降溫系統(tǒng)*獨(dú)立。

5、內(nèi)螺旋式 K-TYPE 冷媒銅管。

6、波浪狀鰭片型強(qiáng)迫送風(fēng)冷凝器。

7、斜率式 FIN -TBE 蒸發(fā)器。

8、*電磁閥;干燥過濾器;膨脹閥等冷凍組件。

9、所有冷凍系統(tǒng)動(dòng)作程序,*由微電腦控制器控制,可達(dá)高效率及省電的優(yōu)點(diǎn)。

九、電路控制系統(tǒng):

1、采微電腦控制方式,標(biāo)準(zhǔn)型采用高品質(zhì)日制RKC控制器。

2、溫度傳感器采用DIN PT-100Ω（白金感應(yīng)）。

3、溫度控制均采用P.I.D.+S.S.R.系統(tǒng)同步協(xié)調(diào)控制,可提高控制組件與界面使用之穩(wěn)定性。

4、輕觸式設(shè)定、數(shù)字直接顯示,所有條件*由微電腦自動(dòng)鎖定。

5、具有P.I.D.自動(dòng)演算之功能,可減少人為設(shè)定時(shí)所帶來之不便。

6、在設(shè)定中,如發(fā)生錯(cuò)誤時(shí),會(huì)提供警示訊號(hào)。

十、安全保護(hù)系統(tǒng):

1、無熔絲保護(hù)開關(guān)。

2、超溫保護(hù)。

3、超壓保護(hù)。

4、冷凍壓縮機(jī)過電流保護(hù)。

5、冷凍壓縮機(jī)超壓保護(hù)。

6、風(fēng)扇馬達(dá)加裝過電流保護(hù)器。

十一、電源:220V.MAX 20A。